Musée EOS

Le système optique de mesure de l'exposition est placé avant la pièce occulaire afin d'interdire l'obstruction de l'icone d'affichage surdimensionné Le système évaluatif de mesure et le système E-TTL, utilises un nouvel algorithme modifié. Les autres capteurs et méthode de mesure sont les mêmes que sur l'EOS 3. La mesure évaluative sur 21 zones a gagné ses lettres de noblesse avec un grand nombre d'utilisateurs l'utilisant pour leur principale besoin de mesure d'exposition excepté pour les situations dans lesquelles le sujet est trop petit pour une mesure précise de l'exposition. Ainsi l'EOS 1v utilises un nouvel algorithme qui apporte une mesure plus consistante obtenue for de telles situations avec sa mesure évaluative sur 21 zones améliorée. pendant que la correction automatique de l'exposition reste la même. Système de mesure évaluative Le mode évaluatif de mesure de l'EOS 1V est lié au point AF activé, et le mode de mesure fait la moyenne. La correction automatique de l'exposition est préréglé pour les sujets lumineux. En effet, la correction manuelle de l'exposition est réglé pour un fond brillant pour la mesure évaluative à prédominance centrale, qui peut être attribuée au point AF sélectionné en correction automatique. Les 45 collimateurs liés aux 21 zones de mesure La mesure évaluative est executée en suivants les étapes suivantes : 1° La moyenne de la mesure est faite pendant que le point AF est sélectionnée sur la zone de mesure correspondante. Si le point AF actif est sur le bord de la zone de mesure, la zone de mesure la plus proche du centre de la visée est sélectionné comme zone de référence. 2° Si la valeur mesurée est de 9 ou plus IL, diverses zones lumineuses adjacentes sont echantillonées avec la zone la plus lumineuse. Si la mesure est évaluée a moins de 9 IL, la mesure conventionnelle Evaluative est utilisée. La valeur obtenue en (1°) est utilisée comme la mesure finale. 3° La mesure est moyenne lorsque elle est attribuée au point AF et à la zone de mesure correspondante. SI le point AF actif est sur le bord de la zone de mesure, la zone de mesure la plus proche du centre du viseur est sélectionné comme la zone AF de référence pour la mesure de l'exposition. 4° Si la valeur de la mesure est égale ou supérieure à 9 IL, différentes zones lumineuses sont echantillonées commencant par la zone la plus brillante. Si la mesure est inférieure à 9 IL, la mesure évaluative conventionnelle est utilisée. La valeur obtenue par 1° est utilisée comme valeur finale. 5° La zone lumineuse echantillonée est prise en compte par une moyenne et une quantité positive de correction d'exposition est ajoutée. La mesure évaluative utilise un algorithme simple qui prend en compte la mesure légère relativesur le point AF actif dans la zone correspondante, et compense la mesure seulement en cas de contre jour. Ainsi l'exposition correcte est obtenue même si l'image est recomposée. Pour les utilisateurs qui se servent principalement la mesure intégrale à prédominance centrale, cela rend plus visible la correction d'exposition requise. Mesure Spot & Partielle Depuis la couverture de 97% de la visée au lieu de 100£% de l'EOS 3, la mesure partielle et spot sont devenus beaucoup plus petite sur l'EOS 1V. Canon EOS 1V - Menu Quintessence de la photographie Les pièces détachées Des photos Nouveau standard Caractéristiques Protection tous temps Améliorations Le concept 10 images par seconde Autofocus Conception Fonctions personnalisées par ordinateur Mesure de l'exposition Logiciel ES-E1 Prolongement du photographe Interview d'un ingénieur Canon ! EOS Series !